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高速低溫氣流沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度,借以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,適用的對象包括金屬、塑膠、橡膠、電子…等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
深圳高低溫冷熱沖擊箱分為高溫區(qū),低溫區(qū),測試區(qū)三部份,采之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中,做冷熱沖擊測試,待測品為不移動(dòng)之方式。
高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)報(bào)價(jià)是模擬高海拔、高空、(高原地區(qū))氣候進(jìn)行貯存運(yùn)用、運(yùn)輸可靠性試驗(yàn),并可同時(shí)對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測試。